上海微电阻测试系统保养

耐电流测试是测试PCB产品的孔互联可靠性的一种测试方法。测试中，孔链被施加直流电流,此电流在测试过程中随孔链温度反馈而实时变化，使得孔链以设定的升温速度V达到设定的高温T1，然后让孔链在该设定的高温T1下保持设定的时间（t2-t1），停止施加电流，使孔链冷却时间(t3-t2),直到达到室温。根据需要还可以进行循环测试。TI-HCT系列耐电流测试系统具有自动化测试能力，实时检测测试Coupon上的阻值变化，描述测试Coupon的阻值、温度实时变化曲线，所有测试数据实时保存到数据库中。 上海柏毅试验设备有限公司专业提供各类测试系统，欢迎您的咨询！上海微电阻测试系统保养

离子迁移测试系统主要用途:该系统***用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂，封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估，以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。该系统能够充分满足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相关测试规范，通过将评估试样置于高压、高温高湿环境下，通过实时监测材料绝缘阻抗的变化，记录相关数据和曲线，帮助使用人员对材料特性进行量化分析。主要应用行业：通讯设备、船舶汽车、计算机、航空航天、半导体，印制电路板等。上海柏毅试验设备有限公司的产品和技术都非常成熟。公司拥有技术和产品专业技术100余份，公司研发团队实力雄厚，新品研发效率比较高；通过多年的沉淀积累，拥有多项专业技术，通ISO9001:2015质量管理体系认证，可生产符合MIL、IEC、DIN等各种国际标准的环境试验设备。 广东MCR测试系统上海柏毅试验设备有限公司是一家专业做各类测试系统，集生产研发销售于一体的公司，欢迎新老客户来电咨询！

    如何提高生产效率和良品率，需要我们在投入大规模产量之前，进行smt贴片加工可焊性测试，这时我们需要对测试PCB原型的样品进行老化处理。因为，新生产的部件或PCB电路板焊接面一般是没有问题的，但存放一段时间后会因氧化而变质。测试必须考虑正常储存条件对可焊性的影响。斯派克恒温恒湿试验箱可检测到焊端涂层的金属性能和预期引起产品质量下降的原因。PCB元器件和电子制造行业，PCB通常要求有一定的存放保质期，通常是6-12个月。因此，要等待这段周期后再进行测量显然不切实际，必须采用加速存储老化的方法，较常用的测试设备是高压加速老化试验箱。高压加速老化试验箱是提高环境应力（温度&湿度&压力），在不饱和湿度环境下（湿度∶85%.）加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%→110℃/85%),作者：斯派克环境仪器链接：源：知乎著作权归作者所有。商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。

全自动耐电流测试仪主要特点如下：•仪器采用高精度，低噪音的电源，高精度测量仪器，保证测试结果的准确性。•超大测试平台，可适用于700mm的PCB板尺寸。•测试探头自动升降。测试完成后样品自动冷却（压缩空气）。•CCD自动对位，较快约20Sec/样品（测试条件：测试时间10S，不冷却，电流判断失效）。•可以适应不同设计和类型的测试coupon。•仪器可以进行电阻校正，电流校正，系统自我检测。•可以升级配置机械手自动上下板。•测量coupon整体温度，避免只能测表面局部温度和局部孔失效而检测不到的漏检，接触传热慢，探头磨损等缺陷。•实时显示温度，电阻，电流曲线,高速实时采样测试，迅速及时捕捉到失效。•设置超温保护，防止样品烧毁，方便进行失效切片分析，从而找到失效的根本原因。•参数测试时一键全自动抓取电流参数，仪器可以自动对测试电流进行调节，系统内置测试电流调节算法，快速找到合适的电流参数。 上海柏毅试验设备有限公司可以提供各种测试系统，可以随时来电咨询！

表面绝缘电阻（SIR）测试系统能够在表面绝缘电阻（SIR）测试中脱颖而出，是因为自动测定系统在实现多通道测定时，能消除了通道间电流的渗漏，而且也提高了试验的可靠性。每个输入都有自己独有的试验线路，确保测试的电压和测量值应用于所有独有的并行通道，不产生相邻通道和交叉通道间的干扰。重要的是减少了测试时间和测试空间。所有的测试程序，通过软件界面进行操作方便快捷。系统显示器能直接显示测试情况、实时测试数据、实时测试曲线、测试判断等。测试数据和曲线能直接保存，方便读取和判断。上海柏毅试验设备有限公司专业提供各类测试系统，随时欢迎您的咨询！江西HCT测试系统操作

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如何对测试器件进行四线连接取决于器件的形式，在某些情况下，焊接可能是不可避免的。被测接点上的每个连接点都可能产生热电动势。然而，这种热电动势可以通过吉时利高精度万用表的电流反向或偏置补偿方法来补偿。测试难点一通常，测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。即使在极短的时间内，器件两端的电压过高也会破坏这种氧化层或薄膜，从而破坏测试的有效性。击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV到100mV的范围内。在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。结果，接点面积增大，并导致其电阻降低。为了避免这类问题，通常采用干电路的方法来进行接点电阻测试。干电路就是将其电压和电流限制到不能引起接触结点的物理和电学状态发生变化电平的电路。一般地说，这就意味着其开路电压20mV或更低，短路电流100mA或更低。由于所使用的测试电流很低。 上海微电阻测试系统保养

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